Meßsystem

摘要

Ein Meßsystem 14 zur Messung des Querprofils bestimmter Eigenschaften einer Materialbahn 12 wie insbesondere einer Faserstoffbahn in einer Papier- und/oder Kartonmaschine oder Streichmaschine umfaßt wenigstens eine stationäre Querprofilmeßvorrichtung 14 mit wenigstens einer Strahlungsquelle 18 zur Bestrahlung der Materialbahn 12 in mehreren definierten unterschiedlichen Wellenlängenbereichen und wenigstens einem Sensor 20 zur Messung der Intensität einer durch die Materialbahn 12 beeinflußten Strahlung, und wenigstens eine Meß- und/oder Auswerteelektronik 24, wobei vorzugsweise über einen jeweiligen Sensor 20 zu einem bestimmten Zeitpunkt lediglich einer der definierten unterschiedlichen Wellenlängenbereiche der Strahlung erfaßt wird.