发明名称 A PREPARING METHOD OF PHOTOLITHOGRAPHIC MASK DEFECTS
摘要
申请公布号 KR100240867(B1) 申请公布日期 2000.01.15
申请号 KR19970018026 申请日期 1997.05.09
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 LEE, KYOUNG-HEE;CHO, HAN-GU
分类号 H01L21/027;(IPC1-7):H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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