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发明名称 MEASURING METHOD OF CRYSTALLIZATION TIME OF PHASE CHANGING RECORDING LAYER
摘要
申请公布号 KR100238081(B1) 申请公布日期 2000.01.15
申请号 KR19970011298 申请日期 1997.03.28
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 CHO, BYUNG IL;HONG, HYEON CHANG
分类号 G11B7/09;(IPC1-7):G11B7/24 主分类号 G11B7/09
代理机构 代理人
主权项
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