摘要 |
本创作系关于半导体封装测试用治具之形状新式样,尤指一种横断面成桥台状之置料治具,两侧屏板分别设有节毗排列之对称凹槽,作为置入二极体、整流器或电容器等电子零件定位位置,在通过线性喂料轨道时提供测试头之探针量测耐压值、漏电流、阻抗值等之测试治具;外形由率直简洁的棱线架构,及协调匀称的空间排列组合,使呈现出清新质朴的视觉美感之新颖形状设计者。本创作半导体等两埠端电子零件用测试治具的形状新式样,如附图所示,外型成一横长的桥台形状,从前方视之,上端桥台面较宽,下端为较窄用以供传送皮带夹持;治具前后端面中段各作有一凹面,及在桥台端面作有一凹沟容纳半导体等零件,两侧为高突之屏板,于屏板端面上设有节毗排列之对称地凹槽,使凹槽与凹槽间成一齿状突缘;该凹槽从侧面视之成漏斗形,上端由两斜边构成往上渐大的开口,并且两斜边之夹角约为60度至90度,在夹角之交点处往下作有一狭幅的槽沟,用以固持定位半导体物料之接脚;在治具通过线性喂料轨道,而感应器检知物料位置时,测试头之探针可准确地量取半导体物料接脚间的检测值。本创作两埠端电子零件用测试治具,系以美学观点将机态与外型作最合理地安排与设计,以简洁流畅的线条,及协调的排列组合,与匀称的比例率直地架构空间形态,使外貌具有增进美感及强化视觉效果之特色。综上所述,本创作两埠端电子零件用测试治具的形状式样,轮廓匀称而美观,外观清新而实用,构思新颖,整体造型呈现调和的视觉美感。 |