| 摘要 |
<p>패킷(packet) 방식의 메모리 디바이스를 시험하는 메모리 디바이스 시험 장치를 제공한다. 본 발명에 의한 메모리 디바이스 장치는 패턴 발생기(60), 핀 데이터 셀렉터(70), 파형(波形) 정형기(30), 메모리 디바이스 삽입부(40) 및 비교기(50)를 가진다. 핀 데이터 셀렉터(70 및 71)는 복수의 신호로부터 1개의 신호를 선택하여 복수회로 나누어 출력하는 서브·핀 데이터 셀렉터(70a 및 71a)를 구비한다. 서브·핀 데이터 셀렉터(70a 및 71a)는 패턴 발생기(60)가 생성한 신호로부터 1개의 신호를 선택하고, 선택한 신호를 파형 정형기(30)로 보낸다. 기입 요구 커맨드 신호가 패킷 방식의 메모리 디바이스(46)에 입력된 후, 테스트 데이터 신호가 메모리 디바이스(46)에 기입된다. 메모리 디바이스(46)로부터 판독되는 테스트 데이터가 기대치 데이터와 비교기(50)에서 비교되어, 메모리 디바이스(46)의 양부(良否)를 판정한다.</p> |
