发明名称 METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 <p>실리콘 기판의 표면에 도달하는 콘택트홀 및 저항을 관통하는 콘택트홀이 동시 에칭에 의해서 층간절연막 상에 형성된다. 그런 후, 하부 Ti 층 및 상부 TiN 층을 층간절연막 상의 배선의 기판층 (배리어층) 으로서 형성하여 콘택트홀을 매립한다. 그런 후, 어닐링 처리는 620 ℃ 의 온도에서 실행된다. 결과적으로, 저항을 관통하는 콘택트홀 내에 매립된 적층막 및 저항이 배선의 측면 상에서 서로 전기적으로 콘택트하게 된다 (사이드콘택트).</p>
申请公布号 KR19990088568(A) 申请公布日期 1999.12.27
申请号 KR19990019057 申请日期 1999.05.26
申请人 null, null 发明人 기따가와마꼬또
分类号 H01L23/522;H01L21/768;H01L21/8244;H01L27/11 主分类号 H01L23/522
代理机构 代理人
主权项
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