发明名称 BORDERLESS CONTACT TO DIFFUSION WITH RESPECT TO GATE CONDUCTOR AND METHODS FOR FABRICATING
摘要 <p>본 발명은 이중 절연 박막 스택(double insulating film stack)을 마스크로 채용하여 전체 칩에 대한 콘택트 도전체 형상을 규정하고, 게이트 도전체 형상을 규정한 이후에 노출된 도전층 상에 비교적 얇은 손상 방지층을 제공하여, 게이트 도전체에 대한 무경계 콘택트를 확산부에 제공하는 것에 관한 것이다. 일 실시예에서, 기판 상에 절연층을 형성하고, 절연층 상에 도전층을 제공하고, 도전층 상에 제 2 절연층을 제공하고, 제 2 절연층 상에 제 3 절연층을 제공하고, 제 2 및 제 3 절연 층의 기선택된 부분을 제거하고, 제 2 및 제 3 절연층이 제거된 부분 내에 손상 방지층을 제공하고, 제 3 절연층의 기선택된 부분을 제거하고, 손상 방지층을 제거하고, 도전층의 노출된 부분을 제거하고, 제 2 절연층의 노출된 부분을 제거함으로써 무경계 콘택트가 형성된다.</p>
申请公布号 KR19990088171(A) 申请公布日期 1999.12.27
申请号 KR19990016722 申请日期 1999.05.11
申请人 null, null 发明人 브루스제임스알렌;채플-소콜조나단다니엘;코버거찰스더블유3세;러셀마이클제임스;만랜디윌리엄;나코스제임스에스;페카릭존조셉;피터슨커크데이비드;란킨제드히코리
分类号 H01L21/60;H01L21/768;H01L27/11 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人
主权项
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