发明名称 COMPOSITE CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS
摘要 <p>본 발명은 동일 시료실 내에 집속 이온 빔 렌즈통과 전자 빔 렌즈통을 가진 복합 하전 입자 빔 장치에 있어서, 전자 빔 렌즈통의 대물렌즈의 잔류 자기를 삭자(削磁)하는 전자기적 수법과, 상기 전자 빔 렌즈통의 대물렌즈의 여자전류값을 기억하는 기능을 가진 것을 특징으로 한다. 그리고, 집속 이온 빔으로 절환하는 타이밍에서 전자 빔 렌즈통의 대물렌즈의 잔류 자기를 삭자한다.</p>
申请公布号 KR19990088413(A) 申请公布日期 1999.12.27
申请号 KR19990018116 申请日期 1999.05.19
申请人 null, null 发明人 오이마사미치
分类号 H01J37/10;H01J37/09;H01J37/28;H01J37/30 主分类号 H01J37/10
代理机构 代理人
主权项
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