| 发明名称 |
FOREIGN MATTER INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11352073(A) |
申请公布日期 |
1999.12.24 |
| 申请号 |
JP19980179605 |
申请日期 |
1998.06.11 |
| 申请人 |
HITACHI LTD;HITACHI ELECTRON ENG CO LTD |
发明人 |
TAGUCHI JUNICHI;SUGIMOTO ARITOSHI;IKODA MASAMI;INOUE HIROKO;ARAYA WAKANA |
| 分类号 |
G01B11/30;G01N21/88;G01N21/94;G01N21/956;H01L21/66;(IPC1-7):G01N21/88 |
主分类号 |
G01B11/30 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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