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发明名称 Apparatus for generating test pattern for sequential logic circuit of integrated circuit and method thereof
摘要
申请公布号 EP0727744(B1) 申请公布日期 1999.12.22
申请号 EP19960107239 申请日期 1992.04.14
申请人 MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. 发明人 TAKEOKA, SADAMI;MOTOHARA, AKIRA
分类号 G01R31/3183;G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;(IPC1-7):G06F11/263;G06F11/273 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
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