发明名称 |
超声双层固体介质无损检测装置 |
摘要 |
本发明公开了一种超声双层固体介质无损检测装置,它由便携机、超声探头、测垢卡构成,脉冲供电源与激励脉冲电源、高速A/D相连,激励脉冲电源与高速A/D相连,超声探头连接在激励脉冲电源、高速A/D连线上,测垢卡插在便携机内,从高速A/D中存储器取出超声波数据,计算出结果,形成人机对话。结构简单,携带方便,准确测量不同介质的声速、厚度,在冶金、石化、电力、机械制造等工业领域有广泛的应用。 |
申请公布号 |
CN1239224A |
申请公布日期 |
1999.12.22 |
申请号 |
CN98113597.8 |
申请日期 |
1998.06.12 |
申请人 |
深圳市中旗电子技术有限公司 |
发明人 |
张光明;张艳燕 |
分类号 |
G01N29/10 |
主分类号 |
G01N29/10 |
代理机构 |
中国科学院武汉专利事务所 |
代理人 |
王敏锋 |
主权项 |
1、一种超声双层固体介质无损检测装置,它由便携机(1)、超声探头 (18)、测垢卡(19)构成,其特征是脉冲供电源(8)与激励脉冲电源 (15)、高速A/D(5)相连,激励脉冲电源(15)与高速A/D(5) 相连,超声探头(18)连接在激励脉冲电源(15)、高速A/D(5)连 线上,测垢卡(19)插在便携机(1)内,从高速A/D中存储器取出超声 波数据,计算出结果,形成人机对话,显示超声波波形及数据激励脉冲产生高 速A/D(5)高速高压的窄脉冲激励超声探头(18),使探头发出超声波 并接收回波,高速A/D(5)把超声探头(18)接收到的各种波形进行模 数变换,把变换后的数据存在RAM(2)中,脉冲供电电源(8)在激励脉 冲电路工作,高速A/D(5)变换电路工作和便携机(1)从高速A/D( 5)的RAM(2)中取数的整个过程中提供电源。 |
地址 |
518003广东省深圳市爱国路10号金通大厦B座1703室 |