发明名称 |
DETECTEUR D'IMAGES CMOS, PHOTODIODE POUR UN DETECTEUR DE CE TYPE, ET PROCEDE POUR LA FABRICATION DE CE DETECTEUR ET DE CETTE PHOTODIODE |
摘要 |
<P>L'invention concerne une photodiode utilisée dans un détecteur d'images CMOS, comprenant : - une couche semi-conductrice (602) d'un premier type de conduction, divisée par une couche isolante (607) en une zone de champs d'une zone active; - une première zone d'impuretés (603) d'un second type de conduction formée à l'intérieur de la couche semi-conductrice (602); et- une seconde zone d'impuretés (604) du premier type de conduction formée au-dessous d'une surface de la couche semi-conductrice (602) et sur la première zone d'impuretés (603). L'invention concerne également un procédé de fabrication de cette photodiode.</P>
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申请公布号 |
FR2779870(A1) |
申请公布日期 |
1999.12.17 |
申请号 |
FR19990010601 |
申请日期 |
1999.08.18 |
申请人 |
HYUNDAI ELECTRONICS INDUSTRIES CO LTD |
发明人 |
WOODWARD YANG;LEE JU IL;LEE NAN YI |
分类号 |
H01L27/144;H01L27/146;H01L31/10;H04N5/335;H04N5/369;H04N5/372;H04N5/3745;(IPC1-7):H01L31/10;H01L27/148 |
主分类号 |
H01L27/144 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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