首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Design for testability method selectively employing two methods for forming scan paths in a circuit
摘要
申请公布号 EP0903586(A3) 申请公布日期 1999.12.15
申请号 EP19980115691 申请日期 1998.08.20
申请人 NEC CORPORATION 发明人 ASAKA, TOSHIHARU
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;G06F17/50;H01L21/82;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com