首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 CIRCUIT FOR BURN-IN STRESSING FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR BURN-IN STRESSING
摘要
申请公布号 KR100234385(B1) 申请公布日期 1999.12.15
申请号 KR19960034527 申请日期 1996.08.20
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 SON, TAE-SIK;KANG, SANG-SUK;KWAK, BYUNG-HEON
分类号 G11C11/40;(IPC1-7):G11C11/40 主分类号 G11C11/40
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com