发明名称 SEMICONDUCTOR TEST DEVICE
摘要
申请公布号 JPH11344533(A) 申请公布日期 1999.12.14
申请号 JP19980151778 申请日期 1998.06.01
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 KOJIMA TETSUYA
分类号 G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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