发明名称 气体绝缘装置之部份放电侦测器及诊断系统
摘要 为了提供部份放电侦测器在宽范围之频率上具有高灵敏性和高正确性,一感应天线安装在气体绝缘装置之金属容器之内侧,其中该天线由两导电板电极构成,每个板电极形成半圆形,且其间安排一确定间隙以形成一分裂圆。以此种感应天线,由部份放电所产生之电磁波可在宽频率范围上受到灵敏的侦测。所侦测之讯号经由一同轴缆线和气密同轴端而传输至一量测单元。具有两导电板电极且每个板电极具有宽面积之感应天线可提供相关于电位量测部份之大静电电容,藉此可致能高感应电位量测。
申请公布号 TW376454 申请公布日期 1999.12.11
申请号 TW087108086 申请日期 1998.05.25
申请人 日立制作所股份有限公司 发明人 加藤达朗;大下阳一
分类号 G01R31/24 主分类号 G01R31/24
代理机构 代理人 林志刚
主权项 1.一种部份放电侦测器,用于具有一金属容器之气体绝缘装置,该金属容器乃充填以绝缘气体,并容纳由绝缘构件所支持之高压导体,包含:一感应天线安装在该金属容器之内侧;一同轴缆线耦合该感应天线和经由气密同轴端而电延伸出金属容器之外部;和一量测单元耦合该同轴缆线,其中该感应天线形成使两片导电板电极以相隔一确定间隙安排。2.如申请专利范围第1项之部份放电侦测器,其中两板电极形成半圆形式,且该感应天线安装在提供在气体绝缘装置中之低电场强度部份中。3.如申请专利范围第1或2项之部份放电侦测器,其中一电容器耦合在该同轴缆线和地间。4.如申请专利范围第1或2项之部份放电侦测器,其中两板电极沿着金属容器之内表面形成。5.如申请专利范围第1或2项之部份放电侦测器,其中每个板电极之外周缘部份是削圆的。6.如申请专利范围第1或2项之部份放电侦测器,其中提供一遮蔽电极以覆盖每个板电极之外周围。7.如申请专利范围第1或2项之部份放电侦测器,其中该同轴缆线之芯心线连接至两板电极之一和一护套导体连接至另一板电极,和该量测单元经由一同轴连接器耦合该同轴缆线。8.如申请专利范围第1或2项之部份放电侦测器,其中该感应天线接地。9.如申请专利范围第1或2项之部份放电侦测器,其中该感应天线由在金属容器中之绝缘构件所支持。10.如申请专利范围第1或2项之部份放电侦测器,进一步包含:一传输电路,其和该同轴缆线耦合,且包括一阻抗匹配电路和一放大器,一传输天线和该同轴缆线耦合;和一接收天线耦合该量测单元以接收由该传输天线传送而来之电磁波。11.如申请专利范围第10项之部份放电侦测器,其中多数之传输天线提供在该气体绝缘装置之不同部份。12.如申请专利范围第1或2项之部份放电侦测器,其中一半球反射器提供在该感应天线和一盖之间,该盖接附至提供在金属容器上之手孔之开口。13.一种用于气体绝缘装置之诊断系统,包含:一感应天线安装在该气体绝缘装置内侧;一量测单元用以分析来自感应天线之部份放电侦测讯号以构成部份放电侦测资料;一诊断单元用以执行介于由该量测单元而来之部份放电侦测资料和现有资料之间之比较操作;和一判断单元用以达成至少判断部份放电是否发生,定位部份放电发生处,和诊断装置之寿命和绝缘之破坏,其中该量测单元根据部份放电侦测讯号而执行频率分析,相位分析,和时间分析。14.如申请专利范围第13项之用于气体绝缘装置之诊断系统,其中该量测单元包含一频谱分析仪用以执行频率分析和相位分析,和一示波器用以执行时间分析。15.如申请专利范围第13项之用于气体绝缘装置之诊断系统,其中该感应天线系由两导电板电极以一确定间隙安排而组成。图式简单说明:第一图和第一图a示意的显示依照本发明之实施例之部份放电侦测器之构造;第二图为依照本发明之实施例之气体绝缘装置之诊断系统之构造方块图;第三图为依照本发明之另一实施例之部份放电侦测器之构造之示意图;第四图为第三图之实施例之变化例之示意图;第五图为第一图之实施例之变化例之示意图;第六图为第一图之实施例之另一变化例之示意图;第七图为本发明之另一实施例之构造之示意图;第八图为本发明之又一实施例之构造之示意图;和第九图为本发明之再一实施例之构造之示意图。
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