| 发明名称 |
INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR INSPECTING THE SAME |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH11337625(A) |
申请公布日期 |
1999.12.10 |
| 申请号 |
JP19980143685 |
申请日期 |
1998.05.26 |
| 申请人 |
NEC ENG LTD |
发明人 |
TAKAHASHI HIROSHI;SAITO MASAAKI |
| 分类号 |
G01R25/00;G01R31/317;(IPC1-7):G01R31/317 |
主分类号 |
G01R25/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
