发明名称 A method for observing film thickness and/or refractive index
摘要
申请公布号 EP0622624(B1) 申请公布日期 1999.12.01
申请号 EP19940302911 申请日期 1994.04.25
申请人 RESEARCH DEVELOPMENT CORPORATION OF JAPAN 发明人 NAGAYAMA, KUNIAKI;ADACHI, EIKI
分类号 G01B11/06;G01N21/21;G01N21/41;G01N21/84;(IPC1-7):G01N21/21 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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