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发明名称 CONNECTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER
摘要
申请公布号 KR100232715(B1) 申请公布日期 1999.12.01
申请号 KR19970005811 申请日期 1997.02.25
申请人 MIRAE CORPORATION 发明人 OH, YOUNG-HAK
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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