发明名称 | 软磁膜、软磁多层膜及其制造方法以及使用这些膜的磁体元件 | ||
摘要 | 本发明是在基片1上形成Fe-N系薄膜2,使主相是α-Fe和γ’-Fe<SUB>4</SUB>N,α-Fe和γ’-Fe<SUB>4</SUB>N相的晶粒细微化到10nm以下,并且与膜面平行的α-Fe的晶面(110)和γ’ -Fe<SUB>4</SUB>N的晶面(200)的间隔,与无晶格畸变的状态相比更为伸展,γ’-Fe<SUB>4</SUB>N的晶面(111)的间隔与无晶格畸变的状态相比更为收缩,基于这样的组织,形成具有优异软磁性的高饱和磁通密度的软磁膜、软磁多层膜以及使用这些膜的磁体元件,满足电子设备的小型化、薄型化、轻型化以及高性能化的要求。 | ||
申请公布号 | CN1236959A | 申请公布日期 | 1999.12.01 |
申请号 | CN99106925.0 | 申请日期 | 1999.05.27 |
申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 名古久美男 |
分类号 | H01F10/14;H01F41/14;C22C38/00 | 主分类号 | H01F10/14 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 邰红;杨丽琴 |
主权项 | 1.一种软磁膜,其特征在于,该软磁膜含有Fe和N,主相是α-Fe和γ’-Fe4N,α-Fe相和γ’-Fe4N相的平均晶粒尺寸在10nm以下,并且与膜面平行的α-Fe的晶面(110)和γ’-Fe4N的晶面(200)的间隔,是比无晶格畸变的状态更为伸展的状态,γ’-Fe4N的晶面(111)的间隔是比无晶格畸变的状态更为收缩的状态。 | ||
地址 | 日本大阪府 |