发明名称 软磁膜、软磁多层膜及其制造方法以及使用这些膜的磁体元件
摘要 本发明是在基片1上形成Fe-N系薄膜2,使主相是α-Fe和γ’-Fe<SUB>4</SUB>N,α-Fe和γ’-Fe<SUB>4</SUB>N相的晶粒细微化到10nm以下,并且与膜面平行的α-Fe的晶面(110)和γ’ -Fe<SUB>4</SUB>N的晶面(200)的间隔,与无晶格畸变的状态相比更为伸展,γ’-Fe<SUB>4</SUB>N的晶面(111)的间隔与无晶格畸变的状态相比更为收缩,基于这样的组织,形成具有优异软磁性的高饱和磁通密度的软磁膜、软磁多层膜以及使用这些膜的磁体元件,满足电子设备的小型化、薄型化、轻型化以及高性能化的要求。
申请公布号 CN1236959A 申请公布日期 1999.12.01
申请号 CN99106925.0 申请日期 1999.05.27
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 名古久美男
分类号 H01F10/14;H01F41/14;C22C38/00 主分类号 H01F10/14
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 邰红;杨丽琴
主权项 1.一种软磁膜,其特征在于,该软磁膜含有Fe和N,主相是α-Fe和γ’-Fe4N,α-Fe相和γ’-Fe4N相的平均晶粒尺寸在10nm以下,并且与膜面平行的α-Fe的晶面(110)和γ’-Fe4N的晶面(200)的间隔,是比无晶格畸变的状态更为伸展的状态,γ’-Fe4N的晶面(111)的间隔是比无晶格畸变的状态更为收缩的状态。
地址 日本大阪府
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