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经营范围
发明名称
WAFER TESTING APPARATUS
摘要
申请公布号
KR200161679(Y1)
申请公布日期
1999.12.01
申请号
KR19940003528U
申请日期
1994.02.25
申请人
HYUNDAI MICRO ELECTRONICS CO.,LTD.
发明人
CHOI, JU-HO;HAN, SANG-KYUN
分类号
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
地址
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