RELIABILITY TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIP,申请号KR19960064252-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	RELIABILITY TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIP
摘要
申请公布号	KR100233556(B1)	申请公布日期	1999.12.01
申请号	KR19960064252	申请日期	1996.12.11
申请人	HYUNDAI ELECTRONICS IND. CO.,LTD	发明人	PARK, GYE-CHAN
分类号	H01L23/28;(IPC1-7):H01L23/28	主分类号	H01L23/28
代理机构		代理人
主权项
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