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<p>종래의 메모리 테스트 장치에 있어서는, 통상, 메모리(19)와 데이터 버스 제어기(18)를 접속하는 데이터 입출력 버스(18b)의 버스폭보다 데이터 핀(14)의 핀폭이 좁기 때문에, 메모리(19)가 데이터 입출력 버스(18b)의 버스폭에 맞춰 테스트 패턴 신호를 판독하더라도, 테스트 패턴 신호를 분할하지 않으면, 테스터(2)에 테스트 패턴 신호를 송신할 수 없어, 메모리(19)의 테스트를 고속으로 실시할 수 없다고 하는 문제가 있었다. 본 발명에 따르면, 테스트 패턴의 판독 요구에 따라서 메모리(30)가 테스트 패턴을 데이터 입출력 버스(29b)에 출력하면, 그 데이터 입출력 버스(29b)로부터 테스트 패턴 신호를 입력하여, 그 테스트 패턴 신호와 기대값을 비교한다.</p> |
