Integrated Circuit Testing Apparatus

摘要

본 발명은, 피시험 IC의 접촉 핀에서의 위치결정 정밀도를 향상시킨 IC 시험장치에 관한 것으로, 테스트 헤드의 접촉 핀(51)에 피시험 IC의 입출력 단자(HB)를 밀착시켜 테스트를 행하는 IC 시험장치에 있어서, 피시험 IC의 테스트 트레이의 인서트(16)에 피시험 IC의 납땜 볼(HB)이 끼워 맞춰지는 구멍(23)을 설치하여 구성된다.