Integrated circuit testing apparatus

摘要

본 발명은 피시험 IC의 접촉부로의 위치결정 정밀도가 우수한 IC 시험 장치를 제공하고자 하는 것이다. 이를 위해, 본 발명은, 피시험 IC의 입출력 단자 HB를 테스트 트레이에 탑재된 상태에서, 테스트 헤드의 접촉 핀(51)에 밀착시켜 테트스를 행하는 IC 시험 장치에 있어서, 소켓(50) 또는 소켓 가이드(40)에 피시험 IC를 접촉하고 이것을 위치 결정하는 디바이스 가이드(52)를 설치하여 구성된다.