| 发明名称 |
Method of and device for measuring the refractive index of wafers of vitreous material |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0736766(B1) |
申请公布日期 |
1999.11.24 |
| 申请号 |
EP19960105471 |
申请日期 |
1996.04.04 |
| 申请人 |
CSELT CENTRO STUDI E LABORATORI TELECOMUNICAZIONI S.P.A. |
发明人 |
TALLONE, LUIGI |
| 分类号 |
G01N21/21;G01M11/00;G01N21/41;G01N21/45;G01N21/59;(IPC1-7):G01N21/45 |
主分类号 |
G01N21/21 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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