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发明名称 DC SIGNAL MEASURING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号 KR100230401(B1) 申请公布日期 1999.11.15
申请号 KR19960080090 申请日期 1996.12.31
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 JUNG, CHANG-YOUNG;KIM, BU-JIN;KANG, SANG-SUK;KWAK, BYUNG-HEON
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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