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发明名称 MERGED INPUT-OUTPUT DATA TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 KR100230373(B1) 申请公布日期 1999.11.15
申请号 KR19960041774 申请日期 1996.09.23
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 JUNG, SUNG-UK
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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