SEMICONDUCTOR DEVICE-TESTING SYSTEM AND METHOD THEREFOR,申请号JP19980120180-传众专利搜索

发明名称	SEMICONDUCTOR DEVICE-TESTING SYSTEM AND METHOD THEREFOR
摘要
申请公布号	JPH11311661(A)	申请公布日期	1999.11.09
申请号	JP19980120180	申请日期	1998.04.30
申请人	NEC CORP	发明人	MATSUO SHOICHI
分类号	G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利