TRANSISTOR UNIT CHARACTERISTIC MEASURING METHOD AND DEVICE THEREOF,申请号JP19980114503-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	TRANSISTOR UNIT CHARACTERISTIC MEASURING METHOD AND DEVICE THEREOF
摘要
申请公布号	JPH11304873(A)	申请公布日期	1999.11.05
申请号	JP19980114503	申请日期	1998.04.24
申请人	SONY TEKTRONIX CORP	发明人	KATO KATSUHISA
分类号	G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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