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发明名称 METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN OF LSI TESTER
摘要
申请公布号 JPH11304890(A) 申请公布日期 1999.11.05
申请号 JP19980106069 申请日期 1998.04.16
申请人 NEC CORP 发明人 OHASHI AKIRA
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G06F17/50;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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