| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR TEST OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PROVIDED WITH MANY MEMORY BANKS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11306792(A) |
申请公布日期 |
1999.11.05 |
| 申请号 |
JP19980310477 |
申请日期 |
1998.10.30 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD |
发明人 |
ZEN JUNKON;KYO SOSHU |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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