| 发明名称 |
TEST PATTERN GENERATING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST PATTERN GENERATING METHOD FOR THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11304889(A) |
申请公布日期 |
1999.11.05 |
| 申请号 |
JP19980107805 |
申请日期 |
1998.04.17 |
| 申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
YAMAMOTO HIROYUKI;KITSUTA MITSUHIRO;NABETA YOSHINORI;KIMIJIMA TATSUYA;CHIBA KAZUO |
| 分类号 |
G01R31/3183;G01R31/28;G06F17/50;(IPC1-7):G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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