发明名称 Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung und eine mindestens zwei Halbleiterelemente umfassende Halbleiteranordnung
摘要 Bei einem Verfahren zur Herstellung einer mindestens zwei Halbleiterbauelemente umfassenden Halbleiteranordnung werden auf einem Halbleitersubstrat (1) an dessen Oberseite zumindest zwei unterschiedlich dotierte Oberflächenbereiche (2, 3) ausgebildet. Nachfolgend wird auf jedem der Oberflächenbereiche eine aus mehreren Schichten (4, 5, 6, 7) bestehende aktive Schichtstruktur (9; 10) aufgebaut, wobei jede Schichtstruktur einem der Halbleiterbauelemente (12; 13) zugeordnet ist. Die jeweils substratseitig untersten elektrisch leitfähigen Schichten (4) der aktiven Schichtstrukturen sind elektrisch voneinander getrennt.
申请公布号 DE19812199(C1) 申请公布日期 1999.11.04
申请号 DE19981012199 申请日期 1998.03.19
申请人 SIEMENS AG 发明人 LELL, ALFRED
分类号 H01L27/15;H01L31/12;H01L31/18;(IPC1-7):H01L21/764 主分类号 H01L27/15
代理机构 代理人
主权项
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