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经营范围
发明名称
TEST APPARATUS AMD METHOD OF ASYNCHRONOUS TYPE
摘要
申请公布号
KR100228337(B1)
申请公布日期
1999.11.01
申请号
KR19970027897
申请日期
1997.06.26
申请人
HYUNDAI ELECTRONICS IND. CO.,LTD
发明人
CHOI, SANG-HUN
分类号
G01R31/00;(IPC1-7):G01R31/00
主分类号
G01R31/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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