| 发明名称 |
SHORT-CIRCUIT INSPECTING METHOD AND SHORT-CIRCUIT INSPECTING DEVICE FOR ELECTRODE GROUP OF BATTERY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11297367(A) |
申请公布日期 |
1999.10.29 |
| 申请号 |
JP19980093092 |
申请日期 |
1998.04.06 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
KATSUMOTO MASUMI;HABA TOSHIAKI;MIKURIYA HITOSHI;YOSHII FUMIHIKO |
| 分类号 |
G01R31/36;H01M10/30;H01M10/48;(IPC1-7):H01M10/48 |
主分类号 |
G01R31/36 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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