| 发明名称 |
INSPECTING METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT AND INSPECTING APPARATUS THEREOF |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11295049(A) |
申请公布日期 |
1999.10.29 |
| 申请号 |
JP19980098638 |
申请日期 |
1998.04.10 |
| 申请人 |
CKD CORP |
发明人 |
MAMIYA TAKAHIRO;WAKITA TAKASHI |
| 分类号 |
G01B11/24;B65D73/02;B65D85/86;(IPC1-7):G01B11/24 |
主分类号 |
G01B11/24 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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