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发明名称
SEMICONDUCTOR DEVICE AND PRODUCTION THEREOF
摘要
<p>SGI 구조를 갖는 반도체 장치에 있어서, 소자 형성 영역의 폭(액티브 폭 D)(㎛), SGI의 홈 산화량 T(㎛) 및 홈 하단부의 곡률 반경을 R로 했을 때, 다음식 (단, T는 0.01㎛ 이상임)의 관계를 만족하도록 D, T 및 R값을 선택하여 제조된 반도체 장치는, 홈 하단부의 실리콘 기판에서 발생하는 응력이 저감하여, 비정상적인 리크(leak) 전류를 발생하지 않는 우수한 특성을 갖는다.</p>
申请公布号
KR19990078323(A)
申请公布日期
1999.10.25
申请号
KR19990010636
申请日期
1999.03.26
申请人
null, null
发明人
이시쯔까노리오;미우라히데오;이께다슈지;요시다야스꼬
分类号
H01L21/76;H01L21/033;H01L21/762;H01L29/00
主分类号
H01L21/76
代理机构
代理人
主权项
地址
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