| 摘要 |
<p>정규모드 동작과 테스트 모드 동작간 전환을 간단하게 하고 에러검출 및 에러정정에 대한 테스트 시간을 단축시킨 반도체 메모리 장치, 및 반도체 메모리 장치 체크방법과, 이를 사용하는 방법이 제공된다. 본 발명에 다른 반도체 메모리 장치는, 주소신호에 의해 지정된 메모리 영역에 데이터를 기입하며 이로부터 데이터를 독출하는 메모리 회로, 에러를 체크하기 위한 코드를 입력데이터에 부가하여 이 코드가 부가된 데이터를 기입 데이터로서 메모리 회로로 보내는 코드 부가부(기입 데이터 레지스터 및 에러정정 코드 발생회로); 메모리 회로로부터 독출 데이터를 수신한 후 에러의 존재를 체크하며, 어떤 에러가 검출되었을 때 이 에러를 정정하는 에러처리부(에러검출 회로 및 에러정정 회로); 및 상기 코드 부가부로부터 데이터를 상기 에러 처리부로 보내는 것으로서, 주소신호가 메모리 회로 내의 메모리 영역을 지정하지 않을 때만, 상기 코드 부가부로부터의 데이터를 상기 에러처리부로 보내는 전환회로를 포함한다.</p> |
