发明名称 积体电路上形成旋涂式玻璃薄膜的方法
摘要 本发明提供一种形成旋涂式玻璃薄膜的方法,该方法可以防止半导体元件临限电压的漂移情形。为了达到此目的,一种低能量的电子束方法被应用在旋涂式玻璃薄膜上,该电子束的能量介于5kV至7kV间。
申请公布号 TW372334 申请公布日期 1999.10.21
申请号 TW086119833 申请日期 1997.12.27
申请人 现代电子工业股份有限公司 发明人 洪尚祺;田尚昊;权赫晋
分类号 H01L21/26 主分类号 H01L21/26
代理机构 代理人 郑煜腾
主权项 1.一种在积体电路上形成旋涂式玻璃薄膜的方法,其步骤包括:在已形成金属线的半导体矽基材上形成一层氧化层;在该氧化层上涂布一层旋涂式玻璃薄膜;以及,使用低能量的电子束布植该旋涂式玻璃薄膜。2.如申请专利范围第1项所述之一种在积体电路上形成旋涂式玻璃薄膜的方法,其中电子束能量介于5kV到7kV。3.如申请专利范围第1项所述之一种在积体电路上形成旋涂式玻璃薄膜的方法,其中电子布植的浓度等于或大于3000微库伦/平方公分。图式简单说明:第一图是实施本发明的旋涂式玻璃薄膜的半导体元件的剖面图。第二图A到第二图C分别是使用炉管与电子束改善旋涂式玻璃薄膜的贯穿孔的剖面照片。
地址 韩国