| 发明名称 |
METHOD FOR DETECTING DEFECT |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH11287640(A) |
申请公布日期 |
1999.10.19 |
| 申请号 |
JP19980087860 |
申请日期 |
1998.04.01 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
KUBO HIROYASU;KOBAYASHI AKIRA;YOKOMAE MISUZU |
| 分类号 |
G01B11/30;G01N21/88;G01N21/95;(IPC1-7):G01B11/30 |
主分类号 |
G01B11/30 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
