| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR WAFER TEMPERATURE TEST EQUIPMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11284037(A) |
申请公布日期 |
1999.10.15 |
| 申请号 |
JP19980103727 |
申请日期 |
1998.03.30 |
| 申请人 |
ORION MACH CO LTD;MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
ASANUMA KAZUNORI;NAKAMURA YUMIO |
| 分类号 |
G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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