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发明名称 SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH11281336(A) 申请公布日期 1999.10.15
申请号 JP19980098577 申请日期 1998.03.26
申请人 RICOH CO LTD 发明人 NAKAYAMA OSAMU
分类号 G01B11/30;(IPC1-7):G01B11/30 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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