发明名称 | 具有内部测试电路的半导体集成电路器件 | ||
摘要 | 半导体集成电路器件具有器件识别码(ID1),在判断包信号(RQ)是否寻址到其上,和时序发生器(16),它响应于表示器件识别码(ID1)和包信号中的输入器件识别码(ID2)一致的找到信号(IDHIT),为数据存取起动一控制序列,其中信号接收电路(12)由包信号(RQ)和表示老化测试的指令的测试信号(TP)共用,逻辑门(23)用于直接从内部模式信号(TEST)产生找到信号(IDHIT),以使时序发生器(16)在老化测试中起动控制序列,而不管测试信号(TP)和存储的器件识别码(ID1)是否一致。 | ||
申请公布号 | CN1231482A | 申请公布日期 | 1999.10.13 |
申请号 | CN99103107.5 | 申请日期 | 1999.03.23 |
申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 原口嘉典 |
分类号 | G11C29/00 | 主分类号 | G11C29/00 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 穆德骏;余朦 |
主权项 | 1.具有普通模式和测试模式的半导体集成电路器件,包括:主电路(2/3;31/32),它包括存储电路(11),用于存储第一器件识别码(ID1),信号接收电路(12),由在所述测试模式中从其外部提供的测试信号(TP)和在所述普通模式中从其外部提供的输入信号(RQ)共用,至少包含一个分配给第二器件识别码(ID2)的数据区,比较电路(13),连接到所述存储电路(11)和所述信号接收电路(12),将所述第二器件识别码(ID2)与所述第一器件识别码(ID1)比较,判断所述输入信号(RQ)是否寻址到所述半导体集成电路器件,且当所述第二器件识别码与所述第一器件识别码一致时,产生初步的找到信号(IDHIT),初级电路(16),响应找到信号(IDHIT),为其它电路(18)起动至少一个预定的控制序列;和测试电路(4;33),用于在所述测试模式中建立所述主电路(2/3;31/32),其特征在于所述测试电路(4;33)包括检测电路(21),响应于表示进入所述测试模式的指令信号(VREF),产生测试模式信号(TEST),和逻辑电路(23;23/34),连接到所述比较电路(13)和所述检测电路(21),并从所述初步的找到信号(IDHIT)和所述测试模式信号(TEST)之一产生所述找到信号(IDHIT)。 | ||
地址 | 日本东京 |