| 发明名称 |
METHOD AND CIRCUIT FOR PREDICTING FAULT RATE OF SEMICONDUCTOR DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11274017(A) |
申请公布日期 |
1999.10.08 |
| 申请号 |
JP19980301778 |
申请日期 |
1998.10.23 |
| 申请人 |
LUCENT TECHNOL INC |
发明人 |
WILLIAM EDWARD BARCHANOWSKY;JEFFREY ALAN REED;RAMIN KUHOINI PUAFAADO |
| 分类号 |
G01R31/28;H01L21/00;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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