发明名称 SEMICONDUCTOR TESTER
摘要
申请公布号 JPH11273397(A) 申请公布日期 1999.10.08
申请号 JP19980067981 申请日期 1998.03.18
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 IGA MASAHIKO
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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