TEST PART OF IC HANDLER,申请号KR19960032599-传众专利搜索

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发明名称	TEST PART OF IC HANDLER
摘要
申请公布号	KR100221951(B1)	申请公布日期	1999.10.01
申请号	KR19960032599	申请日期	1996.08.05
申请人	ADVANTEST CORP.	发明人	KIYOKAWA, TOSIYUKI;HUKUMOTO, KEIICHI
分类号	G01R1/067;(IPC1-7):H01L21/66	主分类号	G01R1/067
代理机构		代理人
主权项
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