| 发明名称 |
THE TEST MODE PERFORMANCE METHOD OF ELECTRONIC APPARATUS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100222970(B1) |
申请公布日期 |
1999.10.01 |
| 申请号 |
KR19970002532 |
申请日期 |
1997.01.29 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. |
发明人 |
KIM, IN-SU |
| 分类号 |
G01R31/317;(IPC1-7):H04N17/00 |
主分类号 |
G01R31/317 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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