发明名称 |
非易失性半导体存储器件及其过写入补救方法 |
摘要 |
一种非易失性半导体存储器件及其过写入补救方法,在过写入核实时,当从已选出的存储器单元(MC1-MCn)读出数据,位线电位就相应于此数据而变化。若使晶体管(Q1)导通,则与位线(BL1)的数据相应地固定锁存电路(LT)。根据该锁存电路(LT)的状态,当有过写入状态的存储器单元的情况下,将选择出的存储器单元的数据锁存在锁存电路(LT)中,消去1页的数据。此后,用锁存在锁存电路(LT)中的数据,进行通常的写入动作。 |
申请公布号 |
CN1045350C |
申请公布日期 |
1999.09.29 |
申请号 |
CN95117371.5 |
申请日期 |
1995.09.29 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
今宫贤一;中村宽 |
分类号 |
H01L29/78;H01L27/105;G11C7/00 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
冯赓宣 |
主权项 |
1.一种非易失性半导体存储器件,它包括:包含多个存储器单元的存储器单元阵列(11);连接前述存储器单元阵列的位线,其特征在于,还包括:锁存为了写入被选定的前述存储器单元的数据,以及从前述存储器单元读出的数据的锁存电路;连接在前述锁存电路和前述位线之间,当在多个前述存储器单元中有过写入状态的存储器单元的情况下,读出该存储器单元的数据,复制在前述锁存电路中,当消除前述存储器单元的数据后,将复制在前述锁存电路中的数据写入前述存储器单元的控制电路。 |
地址 |
日本神奈川县 |