发明名称 | 半导体存储器件及其检验与使用方法 | ||
摘要 | 提供一种半导体存储器件、以及检验该半导体存储器件的一种方法和使用它的方法,它简化了操作的普通模式和操作测试模式之间的转换,缩短了用于错误检测和错误校正的测试时间。根据本发明的半导体存储器件包括:存储电路,代码标识单元(写数据寄存器和错误校正码发生电路),错误处理单元(错误检测电路和错误校正电路)和转换电路。 | ||
申请公布号 | CN1229999A | 申请公布日期 | 1999.09.29 |
申请号 | CN99103028.1 | 申请日期 | 1999.03.19 |
申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 森屋隆昭 |
分类号 | G11C29/00;G06F11/10 | 主分类号 | G11C29/00 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 穆德骏;余朦 |
主权项 | 1.半导体存储器件,包括:存储单元,它包括m个存储区,其中m是任意的自然数,用于在由输入的地址信号指定的存储区写和读数据;代码标识单元,用于标识一代码,以检验输入的数据中的任何错误,并将作了代码标识的数据送到上述存储单元;转换单元,当上述存储信号指定上述存储单元中的存储区时,用于从上述存储单元输出数据;当上述地址信号未指定上述存储单元中的任何存储区时,从上述代码标识单元输出数据;和错误处理单元,当从上述转换单元接收数据时,用于根据标识到数据上的代码来检验上述数据包含的错误,当监测到任何错误时,校正错误并输出上述数据。 | ||
地址 | 日本东京 |